環(huán)形光源如何消去條紋,環(huán)形光源原理

本文目錄一覽：

• 1、白熾燈作光源時(shí),如何調(diào)出干涉條紋
• 2、雙縫實(shí)驗(yàn)的問(wèn)題概述
• 3、邁克爾遜干涉儀
• 4、有誰(shuí)知道環(huán)形光源的參數(shù)？以及特點(diǎn)和應(yīng)用。。急急。。
• 5、機(jī)器視覺(jué)中所用到的同軸光源和其它光源的優(yōu)缺點(diǎn)，以及使用方法
• 6、雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，光源上下移動(dòng)時(shí)，干涉條紋如何變化？

白熾燈作光源時(shí),如何調(diào)出干涉條紋

邁克爾遜 干涉儀吧,先用單色光,盡量使條紋間隔變最大,再換白熾燈,再微調(diào),即可.

雙縫實(shí)驗(yàn)的問(wèn)題概述

在實(shí)驗(yàn)中，如果把狹縫s的寬度逐漸變大，這時(shí)，會(huì)發(fā)現(xiàn)屏幕上的條紋逐漸模糊，以至最后消失。由此可見(jiàn)，要得到清晰的干涉條紋，狹縫s的寬度必須滿(mǎn)足一定的條件。

在討論雙縫干涉條紋分布時(shí)，一般把縫光源的寬度看作是無(wú)限窄的。當(dāng)考慮到縫有一定的寬度時(shí)，可以認(rèn)為縫光源是由許多無(wú)限窄的縫組成。每個(gè)無(wú)限窄的縫光源可稱(chēng)為“線光源”，由每個(gè)線光源發(fā)的光射到雙縫s1、s2上，將在屏上形成一組干涉條紋。由于各線光源的位置略有不同，到達(dá)s1、s2時(shí)引起的振動(dòng)也略有不同，在屏上形成的干涉條紋亦將略有移動(dòng)。如果一個(gè)線光源形成的亮紋恰好落在另一線光源形成的暗紋上，則這兩個(gè)線光源的干涉條紋就完全抹平了。按照這一想法，就可以找出縫寬s的限度。

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如圖所示，a1a2表示狹縫光源，寬度為a。它放在s1、s2對(duì)稱(chēng)的位置上．縫的中心s所對(duì)應(yīng)的線光源在屏上產(chǎn)生的干涉條紋，在圖上用實(shí)線表示．它的中央亮紋將正好位于對(duì)稱(chēng)平面與屏的交線上．考察縫的上邊緣a1所對(duì)應(yīng)的線光源，它到狹縫s1和s2的距離分別為r1和r2．如果r2-r1=λ/2⑴，則由a1發(fā)出的光到兩縫將產(chǎn)生π位相差，這個(gè)位相差將使干涉條紋移動(dòng)半個(gè)波長(zhǎng)。即s的亮紋處正好是a1的暗紋處，s的暗紋處襪擾轎正好是a1的亮紋處。故條件⑴即是a1和a2條紋抹平的條件。當(dāng)此條件滿(mǎn)足時(shí)，a1至s之間的各點(diǎn)在屏上形成的干涉條紋將分別與s到a2之間的各點(diǎn)在屏上形成的干涉條紋一一對(duì)應(yīng)地相互抹平。因此，整個(gè)狹縫a1a2在屏上的干涉條紋就完全抹平了。故條件⑴就是這個(gè)問(wèn)題的基本條件。由此條件可以求出所對(duì)應(yīng)的縫寬a，由圖可知

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考慮到實(shí)際情況，la、d，故可作近似展開(kāi)：

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這就是作楊氏雙縫實(shí)驗(yàn)時(shí)狹縫s的極限寬度。

下面作一點(diǎn)討論，由上述結(jié)論看，l越大，d越小，允許的縫寬可以越大．不妨估計(jì)一下，當(dāng)d=1mm，l=10cm，λ=0.5μm時(shí)，可得 a≈0.05mm。故一般實(shí)驗(yàn)上要想得到清晰的干涉條紋，a要比0.05mm小得多才行。但如果把一個(gè)很寬的縫放在幾十米外，則還是可以觀察到干涉現(xiàn)象的．夜晚透過(guò)紗窗觀看遠(yuǎn)處的燈火，常?？梢钥吹街行膶?duì)稱(chēng)的四角花紋，實(shí)際上就是透過(guò)紗窗小孔的光相互間形成的干涉。遠(yuǎn)處燈火的線度并不小，在近處用它是不能形成干涉的，但放遠(yuǎn)了之后，l大了，允許的光源的線度就增加了。 相干條件要求兩相干光的頻率相同，而在白光中各種波長(zhǎng)都有，為什么會(huì)發(fā)生干涉？確實(shí)，白李晌光中包含著各種頻率的可見(jiàn)光，不同頻率的光波是不相干的．但以?xún)煽p射出的白光中，相同頻率的單色光之間能夠發(fā)生干涉現(xiàn)象。s為白光光源時(shí)，由s發(fā)出的任一波長(zhǎng)的任一列光波都照s1和s2上，所以s1中的任一列光波都能在s2中找到與其相干的一列波。s1和s是相干的白光光源，每一種波長(zhǎng)的光在觀察屏上都得到一組楊氏條紋。各種波長(zhǎng)的楊氏條紋疊加起來(lái)便得到白光楊氏干涉圖樣分布。由于各種單色光在中央線上，相位差都等于零，振動(dòng)都要加強(qiáng)，于是各單色的光在中央線上都顯示明紋，因此中央明紋仍是白色的。又因中央明紋的寬度與波長(zhǎng)成正比，所以各單色光的中央明紋寬度不同。于是在白色明紋的邊緣彩帶，紫光靠里，紅光靠外。其它各級(jí)明紋也因單色光波長(zhǎng)不同而分開(kāi)，形成七色光帶，有次序地循環(huán)排列。

邁克爾遜干涉儀

這個(gè)主要是測(cè)量鈉雙線的波長(zhǎng)差。

【實(shí)驗(yàn)?zāi)康摹?/p>

1.了解邁克爾遜干涉儀的干涉原理和邁克爾遜干涉儀的結(jié)構(gòu)，學(xué)習(xí)其調(diào)節(jié)方法。

2．調(diào)節(jié)觀察干涉條紋，測(cè)量激光的波長(zhǎng)。

3．測(cè)量鈉雙線的波長(zhǎng)差。

4．練習(xí)用逐差法處理實(shí)源源驗(yàn)數(shù)據(jù)。

【實(shí)驗(yàn)儀器】

邁克爾遜干涉儀，鈉燈，針孔屏，毛玻璃屏，多束光纖激光源（HNL 55700）。

【實(shí)驗(yàn)原理】

1．邁克爾遜干涉儀

圖1是邁克爾遜干涉儀實(shí)物圖。圖2是邁克爾遜干涉儀的光路示意圖，圖中M1和M2是在相互垂直的兩臂上放置的兩個(gè)平面反射鏡，其中M1是固定的；M2由精密絲桿控制，可沿臂軸前、后移動(dòng)，移動(dòng)的距離由刻度轉(zhuǎn)盤(pán)(由粗讀和細(xì)讀2組刻度盤(pán)組合而成)讀出。在兩臂軸線相交處，有一與兩軸成45°角的平行平面玻璃板G1，它的第二個(gè)平面上鍍有半透（半反射）的銀膜，以便將入射光分成振幅接近相等的反射光⑴和透射光⑵，故G1又稱(chēng)為分光板。G2也是平行平面玻璃板，與G1平行放置，厚度和折射率均與G1相同。由于它補(bǔ)償了光線⑴和⑵因穿越G1次數(shù)不同而產(chǎn)生的光程差，故稱(chēng)為補(bǔ)償板。

從擴(kuò)展光源S射來(lái)的光在G1處分成兩部分，反射光⑴經(jīng)G1反射后向著M2前進(jìn)，透射光⑵透過(guò)G1向著M1前進(jìn)，這兩束光分別在M2、M1上反射后逆著各自的入射方向返回，最后都達(dá)到E處。因?yàn)檫@兩束光是相干光，因而在E處的觀察者就能夠看到干涉條紋。

由M1反射回來(lái)的光波在分光板G1的第二面上反射時(shí)，如同平面鏡反射一樣，使M1在M2附近形成M1的虛像M1′，因而光在邁克爾遜干涉儀中自M2和M1的反射相當(dāng)于自M2和M1′的反射。由此可見(jiàn)，在邁克爾遜干涉儀中所產(chǎn)生的干涉與空氣薄膜所產(chǎn)生的干涉是等效的。

當(dāng)M2和M1′平行時(shí)(此時(shí)M1和M2嚴(yán)格互相垂直)，將觀察到環(huán)形的等傾干涉條紋。一般情況下，M1和M2形成一空氣劈尖，因此將觀察到近似平行的干涉條紋(等厚干涉條紋)。

2．單色光波長(zhǎng)的測(cè)定

用波長(zhǎng)為λ的單色光脊舉照明時(shí)，邁克爾遜干涉儀所產(chǎn)生的環(huán)形等傾干涉圓條紋的位置取決于相干光束間的光雹野態(tài)程差，而由M2和M1反射的兩列相干光波的光程差為

Δ＝2dcos i (1)

其中i為反射光⑴在平面鏡M2上的入射角。對(duì)于第k條紋，則有

2dcos ik＝kλ (2)

當(dāng)M2和M1′的間距d逐漸增大時(shí)，對(duì)任一級(jí)干涉條紋，例如k級(jí)，必定是以減少cosik的值來(lái)滿(mǎn)足式(2)的，故該干涉條紋間距向ik變大(cos ik值變小)的方向移動(dòng)，即向外擴(kuò)展。這時(shí)，觀察者將看到條紋好像從中心向外“涌出”，且每當(dāng)間距d增加λ/2時(shí)，就有一個(gè)條紋涌出。反之，當(dāng)間距由大逐漸變小時(shí)，最靠近中心的條紋將一個(gè)一個(gè)地“陷入”中心，且每陷入一個(gè)條紋，間距的改變亦為λ/2。

因此，當(dāng)M2鏡移動(dòng)時(shí)，若有N個(gè)條紋陷入中心，則表明M2相對(duì)于M1移近了

Δd＝N (3)

反之，若有N個(gè)條紋從中心涌出來(lái)時(shí)，則表明M2相對(duì)于M1移遠(yuǎn)了同樣的距離。

如果精確地測(cè)出M2移動(dòng)的距離Δd，則可由式(3)計(jì)算出入射光波的波長(zhǎng)。

3．測(cè)量鈉光的雙線波長(zhǎng)差Δλ

鈉光2條強(qiáng)譜線的波長(zhǎng)分別為λ1＝589.0 nm和λ2＝589.6 nm，移動(dòng)M2，當(dāng)光程差滿(mǎn)足兩列光波⑴和⑵的光程差恰為λ1的整數(shù)倍，而同時(shí)又為λ2的半整數(shù)倍，即

Δk1λ1＝(k2＋)λ2

這時(shí)λ1光波生成亮環(huán)的地方，恰好是λ2光波生成暗環(huán)的地方。如果兩列光波的強(qiáng)度相等，則在此處干涉條紋的視見(jiàn)度應(yīng)為零(即條紋消失)。那么干涉場(chǎng)中相鄰的2次視見(jiàn)度為零時(shí)，光程差的變化應(yīng)為

ΔL＝kλ1＝(k＋1)λ2 (k為一較大整數(shù))

由此得

λ1－λ2＝＝

于是

Δλ=λ1－λ2＝＝

式中λ為λ1、λ2的平均波長(zhǎng)。

對(duì)于視場(chǎng)中心來(lái)說(shuō)，設(shè)M2鏡在相繼2次視見(jiàn)度為零時(shí)移動(dòng)距離為Δd，則光程差的變化ΔL應(yīng)等于2Δd，所以

Δλ＝ (4)

對(duì)鈉光＝589.3 nm，如果測(cè)出在相繼2次視見(jiàn)度最小時(shí)，M2鏡移動(dòng)的距離Δd ,就可以由式(4)求得鈉光D雙線的波長(zhǎng)差。

4.點(diǎn)光源的非定域干涉現(xiàn)象

激光器發(fā)出的光，經(jīng)凸透鏡L后會(huì)聚S點(diǎn)。S點(diǎn)可看做一點(diǎn)光源，經(jīng)G1(G1未畫(huà))、M1、M2′的反射，也等效于沿軸向分布的2個(gè)虛光源S1′、S2′所產(chǎn)生的干涉。因S1′、S2′發(fā)出的球面波在相遇空間處處相干，所以觀察屏E放在不同位置上，則可看到不同形狀的干涉條紋，故稱(chēng)為非定域干涉。當(dāng)E垂直于軸線時(shí)(見(jiàn)圖3)，調(diào)整M1和M2的方位也可觀察到等傾、等厚干涉條紋，其干涉條紋的形成和特點(diǎn)與用鈉光照明情況相同，此處不再贅述。

【實(shí)驗(yàn)內(nèi)容與步驟】

1．觀察擴(kuò)展光源的等傾干涉條紋并測(cè)波長(zhǎng)

①點(diǎn)燃鈉光燈，使之與分光板G1等高并且位于沿分光板和M1鏡的中心線上，轉(zhuǎn)動(dòng)粗調(diào)手輪，使M1鏡距分光板G1的中心與M1鏡距分光板G1的中心大致相等(拖板上的標(biāo)志線在主尺32 cm 位置)。

②在光源與分光板G1之間插入針孔板，用眼睛透過(guò)G1直視M2鏡，可看到2組針孔像。細(xì)心調(diào)節(jié)M1鏡后面的 3 個(gè)調(diào)節(jié)螺釘，使 2 組針孔像重合，如果難以重合，可略微調(diào)節(jié)一下M2鏡后的3個(gè)螺釘。當(dāng)2組針孔像完全重合時(shí)，就可去掉針孔板，換上毛玻璃，將看到有明暗相間的干涉圓環(huán)，若干涉環(huán)模糊，可輕輕轉(zhuǎn)動(dòng)粗調(diào)手輪，使M2鏡移動(dòng)一下位置，干涉環(huán)就會(huì)出現(xiàn)。

③再仔細(xì)調(diào)節(jié)M1鏡的2個(gè)拉簧螺絲，直到把干涉環(huán)中心調(diào)到視場(chǎng)中央，并且使干涉環(huán)中心隨觀察者的眼睛左右、上下移動(dòng)而移動(dòng)，但干涉環(huán)不發(fā)生“涌出”或“陷入”現(xiàn)象，這時(shí)觀察到的干涉條紋才是嚴(yán)格的等傾干涉。

④測(cè)鈉光D雙線的平均波長(zhǎng)。先調(diào)儀器零點(diǎn)，方法是：將微調(diào)手輪沿某一方向(如順時(shí)針?lè)较?旋至零，同時(shí)注意觀察讀數(shù)窗刻度輪旋轉(zhuǎn)方向；保持刻度輪旋向不變，轉(zhuǎn)動(dòng)粗調(diào)手輪，讓讀數(shù)窗口基準(zhǔn)線對(duì)準(zhǔn)某一刻度，使讀數(shù)窗中的刻度輪與微調(diào)手輪的刻度輪相互配合。

⑤始終沿原調(diào)零方向，細(xì)心轉(zhuǎn)動(dòng)微調(diào)手輪，觀察并記錄每“涌出”或“陷入”50個(gè)干涉環(huán)時(shí)，M1鏡位置，連續(xù)記錄6次。

⑥根據(jù)式(5-8)，用逐差法求出鈉光D雙線的平均波長(zhǎng)，并與標(biāo)準(zhǔn)值進(jìn)行比較。

2．觀察等厚干涉和白光干涉條紋

①在等傾干涉基礎(chǔ)上，移動(dòng)M2鏡，使干涉環(huán)由細(xì)密變粗疏，直到整個(gè)視場(chǎng)條紋變成等軸雙曲線形狀時(shí)，說(shuō)明M2與M1′接近重合。細(xì)心調(diào)節(jié)水平式垂直拉簧螺絲，使M2與M1′有一很小夾角，視場(chǎng)中便出現(xiàn)等厚干涉條紋，觀察和記錄條紋的形狀、特點(diǎn)。

②用白熾燈照明毛玻璃(鈉光燈不熄滅)，細(xì)心緩慢地旋轉(zhuǎn)微動(dòng)手輪，M2與M1′達(dá)到“零程”時(shí)，在M2與M1′的交線附近就會(huì)出現(xiàn)彩色條紋。此時(shí)可擋住鈉光，再極小心地旋轉(zhuǎn)微調(diào)手輪找到中央條紋，記錄觀察到的條紋形狀和顏色分布。

3．測(cè)定鈉光D雙線的波長(zhǎng)差

①以鈉光為光源調(diào)出等傾干涉條紋。

②移動(dòng)M2鏡，使視場(chǎng)中心的視見(jiàn)度最小，記錄M2鏡的位置；沿原方向繼續(xù)移動(dòng)M2鏡，使視場(chǎng)中心的視見(jiàn)度由最小到最大直至又為最小，再記錄M2鏡位置，連續(xù)測(cè)出6個(gè)視見(jiàn)度最小時(shí)M2鏡位置。

③用逐差法求Δd的平均值，計(jì)算D雙線的波長(zhǎng)差。

4．點(diǎn)光源非定域干涉現(xiàn)象觀察

方法步驟自擬。

邁克爾遜干涉儀系精密光學(xué)儀器，使用時(shí)應(yīng)注意防塵、防震；不能觸摸光學(xué)元件光學(xué)表面；不要對(duì)著儀器說(shuō)話(huà)、咳嗽等；測(cè)量時(shí)動(dòng)作要輕、要緩，盡量使身體部位離開(kāi)實(shí)驗(yàn)臺(tái)面，以防震動(dòng)。

參考：

有誰(shuí)知道環(huán)形光源的參數(shù)？以及特點(diǎn)和應(yīng)用。。急急。。

您好！東莞思奧特 自動(dòng)化科技有限公司歡迎你前來(lái)咨詢(xún)！專(zhuān)業(yè)提供--OPT-RI系列環(huán)形光源

型號(hào):OPT-RI7030

電壓:24V

功率:6.5W

顏色:白色,紅色,綠色,藍(lán)色,紅外,紫外,顏色可定制

產(chǎn)品敗陵特點(diǎn):

突出物體的三維信息；

高密度LED陣列，高亮度；

多種緊湊設(shè)計(jì)，節(jié)省安裝空間；

解決對(duì)角照射陰影問(wèn)題；

可選配漫射板導(dǎo)光，光線均勻擴(kuò)散。

可定制不同照射角度,不同顏色,多色組合光源

應(yīng)用領(lǐng)域:

環(huán)形光源可應(yīng)用于PCB基板檢測(cè)；IC元件檢測(cè)；顯微察轎戚鏡照明；液晶校正；塑膠容器檢測(cè)；集成電路印字檢查等。

應(yīng)用實(shí)例:鋁箔表面熨膠邊緣檢測(cè)

檢測(cè)目標(biāo)位為銀白色鋁箔上面的塑料熨膜，塑料膜接近透明，在沒(méi)同光路照射下，很難將塑料和濾膜區(qū)分清楚。

選用光源:OPT-RI7030-W(W表示白色)合適角度環(huán)形光配合偏振片，將不同材質(zhì)物體表面反光帆帶按不同比例過(guò)濾，得到比較理想的圖像效果。

機(jī)器視覺(jué)中所用到的同軸光源和其它光源的優(yōu)缺點(diǎn)，以及使用方法

1、同軸光源

同軸光源可以消除物體表面不平整引起的陰影，從而減少干擾；部分采用分光鏡設(shè)計(jì)，減少光損失，提高成像清晰度，均勻照射物體表面。應(yīng)用領(lǐng)域:系列光源最適宜用于反射度極高的物體，如金屬、玻璃、膠片、晶片等表面的劃傷檢測(cè)，芯片和硅晶片的破損檢測(cè)，Mark點(diǎn)定位，包裝條碼識(shí)別。

2、背光源

用高密度LED陣列面提供高強(qiáng)度背光照明，能突出物體的外形輪廓特征，尤其適合作為顯微鏡的載物臺(tái)。紅白兩用背光源、紅藍(lán)多用背光源，能調(diào)配出不同顏色，滿(mǎn)足不同被測(cè)物多色要求。應(yīng)用領(lǐng)域:機(jī)械零件尺寸的測(cè)量，電子元件、IC的外型檢測(cè)，膠片污點(diǎn)檢測(cè)，透明物體劃痕檢測(cè)等。

3、條形光源

條形光源是較大方形結(jié)構(gòu)被測(cè)物的首選光源；顏色可根據(jù)需求搭配，自由組合；照射角度與安裝隨意可調(diào)。應(yīng)用領(lǐng)域:金屬表面檢查，圖像掃描，表面裂縫檢測(cè)，LCD面板檢測(cè)等。

4、環(huán)形光源

環(huán)形光源提供不同照射角度、不同顏色組合，更能突出物體的三維信息；高密度LED陣列，高亮度；多種緊湊設(shè)計(jì)，節(jié)省安裝空間；解決對(duì)角扒缺叢照射陰影問(wèn)題；可選配漫射板導(dǎo)光，光線均勻擴(kuò)散。應(yīng)用領(lǐng)域:PCB基板檢測(cè)，IC元件檢測(cè)，顯微鏡照明，液晶校正，塑膠容器檢測(cè)，集成電路印字檢查

5、AOI專(zhuān)用光源

不同角度的三色光照明，照射凸顯焊錫三維信息；外加漫射板導(dǎo)光，減少反光；不同角度組合；應(yīng)用領(lǐng)域:用于電路板焊錫檢測(cè)。

6、球積分光源

具有積分效果的半球面內(nèi)壁，均勻反射從底部360度發(fā)射出的光線，使整個(gè)圖像的照度十分均勻。應(yīng)用領(lǐng)域:合于曲面，表面凹凸，弧形表面檢測(cè)，或金屬、玻璃表面反光較扮凳強(qiáng)的物體表面檢測(cè)。

7、線形光源

超高亮度，采用柱面透鏡聚光，適用于各種流水線連續(xù)檢測(cè)場(chǎng)合。應(yīng)用領(lǐng)域:陣相機(jī)照明專(zhuān)用，AOI專(zhuān)用。

8、點(diǎn)光源

大功率LED，體積小，發(fā)光強(qiáng)度高；光纖鹵素?zé)舻奶娲罚绕溥m合作為鏡頭的同軸光源等；高效散熱裝置，大大提高光源的使用壽命。應(yīng)用領(lǐng)域:適合遠(yuǎn)心鏡頭使用，用于芯片檢測(cè)，Mark點(diǎn)定位，晶片及液晶玻璃底基校正。

9、組合條形光源

四邊配置條形光，每邊照明獨(dú)立可控；可根據(jù)被測(cè)物要求調(diào)整所需照明角度，適用性廣。應(yīng)春櫻用案例:CB基板檢測(cè)，IC元件檢測(cè)，焊錫檢查，Mark點(diǎn)定位，顯微鏡照明，包裝條碼照明，球形物體照明等。

10、對(duì)位光源

對(duì)位速度快；視場(chǎng)大；精度高；體積小，便于檢測(cè)集成；亮度高，可選配輔助環(huán)形光源。應(yīng)用領(lǐng)域:VA系列光源是全自動(dòng)電路板印刷機(jī)對(duì)位的專(zhuān)用光源。

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雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，光源上下移動(dòng)時(shí)，干涉條紋如何變化？

楊氏雙縫干涉實(shí)驗(yàn)中，光源上下移動(dòng)時(shí)，干涉條紋下上移動(dòng)（移動(dòng)方向與前者的相反）。

干擾必須第一相干光繞過(guò)障礙物（事實(shí)上，衍射），然后相互疊加，形成了光與暗的條紋。

雙縫垂直，水平方向上，體積小，容易繞過(guò)去的光（衍射），位于左，右兩側(cè);每個(gè)接縫，而垂直方向上的大小，是數(shù)缺不容易的光繞過(guò)去，所以沒(méi)有光上下。最終，每一個(gè)垂直縫左右兩側(cè)的光彼此疊加，形成明暗相間條紋，性質(zhì)和平行的接縫。

擴(kuò)展資料：

假若光束是由經(jīng)典粒子組成，將光束照射于一條狹縫，通過(guò)狹縫后，沖擊于探測(cè)屏，則在探射屏應(yīng)該會(huì)觀察到對(duì)應(yīng)于狹縫尺寸與形狀的圖樣?？墒?，假設(shè)實(shí)際進(jìn)行這單縫實(shí)驗(yàn)，探測(cè)屏?xí)@示出薯亂辯衍射圖樣，光束會(huì)被展開(kāi)，狹縫越狹窄，則展開(kāi)角度越大。在探測(cè)陪判屏?xí)@示出，在中央?yún)^(qū)域有一塊比較明亮的光帶，旁邊襯托著兩塊比較暗淡的光帶。

參考資料來(lái)源：百度百科-雙縫實(shí)驗(yàn)