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一.基本思路
?、倭私忭椖啃枨螅鞔_具體檢驗內容，比如外觀檢驗、OCR、尺寸測量、定位識別等;
②查看檢驗目標的材質特性，分析目標與背景的區(qū)別，找到二者之間成像的大差異;
?、墼儐柨蛻粲袩o限制的條件，比如產線光場、工作距離、光源大小、視野范圍等;
?、芨鶕?jù)具體情況，使用實際光源進行反復測試，得到較好的圖像效果圖，也就是不錯的光源方案。
一、環(huán)形光源：環(huán)形光源提供不同照射角度、不同顏色組合，更能突出物體的三維信息;
1、高密度LED陣列，高亮度;
2、種緊湊設計，節(jié)省安裝空間;
3、解決對角照射陰影問題;
4、可選配漫射板導光，光線均勻擴散。
使用領域:PCB基板檢驗，IC元件檢驗，顯微鏡照明，液晶校正，塑膠容器檢驗等。
二、背光源：用高密度LED陣列面提供高強度背光照明，能突出物體。的外形輪廓特點，尤其適合作為顯微鏡的載物臺。紅白兩用背光源、紅藍多用背光源，能調配出不同顏色，滿足不同被測物多色要求。
使用領域:機械零件尺寸的測量，電子元件、IC的外型檢驗，膠片污點檢驗，透明物體劃痕檢驗等。
對位光源：對位速度快;視場大;精度高;體積小，便于檢驗集成;亮度高，可選配輔助環(huán)形光源。
使用領域:VA系列光源是全自動電路板印刷機對位的專用光源。
電話：159-9963-2629
座機：0755-27197227
銷售：zsj@cr-led.hk
備案號：粵ICP備2021129175號-1
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