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一、檢測(cè)缺陷,如表面凸起、劃痕和字符質(zhì)量(環(huán)形光源)
對(duì)于零部件表面的劃痕、凹凸、印刷文字是否漏印或套印等表面比較平整、反射較低的場(chǎng)景的檢測(cè),一般采用環(huán)形光源進(jìn)行拋光,可以提供不同的照明角度、顏色組合和物體的三維信息。
二、現(xiàn)場(chǎng)、輪廓尺寸測(cè)量、邊緣損傷檢測(cè)(背光源)
確認(rèn)零件輪廓的大小或形狀,需要觀察零件的邊緣形狀;比如陶瓷輪廓檢測(cè),沖孔質(zhì)量檢測(cè)等。一般是背光源打光。
三、現(xiàn)場(chǎng)曲面、凹凸面、曲面缺陷檢測(cè)(圓頂光源)
對(duì)于表面不平整且有一定弧度的零件,一般采用圓頂光源進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
四、高反射物體的表面缺陷檢測(cè)(同軸光源)
用于金屬、玻璃、陶瓷等高反射物體的表面缺陷檢測(cè)。,一般拋光會(huì)產(chǎn)生強(qiáng)反射,會(huì)造成部分區(qū)域不可見,所以需要使用同軸光源進(jìn)行缺陷檢測(cè)。
五、通用外觀檢測(cè)(條形光源)
一般用條形光源來(lái)檢測(cè)有紋理的、平面的大面積零件的外觀缺陷,如金屬表面的劃痕、裂紋等。
工業(yè)視覺(jué)檢測(cè)中良好的光源可以大大降低圖像處理算法分割和識(shí)別的難度,提高系統(tǒng)的定位和測(cè)量精度,從而增強(qiáng)系統(tǒng)的可靠性和綜合性能。光源的選擇直接影響檢查效果。